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HORIBA堀場拉曼光譜儀LabRAM Solei/XploRA PLUS/XploRA Nano


HORIBA堀場拉曼光譜儀LabRAM Solei/XploRA PLUS/XploRA Nano

拉曼光譜始于 20 世紀 20 年代

拉曼光譜以印度物理學家錢德拉塞卡拉·文卡塔·拉曼爵士(1888117-19701121日)的名字命名,他出生于前印度馬德拉斯省,其在光散射領域進行的開創性研究工作為他贏得了 1930 年諾貝爾物理學獎。

拉曼光譜應用的領域:

1.**和化妝品

2.地質學和礦物學

3.碳材料

4.半導體材料

5.生命科學
LabRAM Soleil高分辨超靈敏智能拉曼成像儀



HORIBA在拉曼光譜領域擁有50年的專業經驗,*新推出的LabRAM Soleil高分辨超靈敏智能拉曼成像儀結構緊湊、體積小巧,將帶給您****的體驗。
LabRAM Soleil只需較少的人工干預即可**工作24小時,這得益于儀器的:高度自動化、高光通量、物鏡自動識別、光學反射鏡自動切換、SmartSamplingQScan提供的超快速成像、4塊光柵快速全自動切換、光路自動準直以及LabSpec 6 智能軟件功能。

結構緊湊型高分辨超靈敏智能拉曼成像儀
LabRAM Soleil設計緊湊且保證激光**,提供多種光學觀察模式和高光譜成像功能:
占用面積<1m2
1級激光**大樣品室
反射/透射照明
明場/暗場/落射熒光/相位差和差分干涉差(DIC)顯微鏡

ViewSharpTM 超快速三維表面形貌技術
QScan激光矢量片層掃描技術——無需移動樣品即可進行高質量3D共焦成像
 XYZ 3D共聚焦成像,深度剖析(單點或QScanTM片層掃描)
標配低波數拉曼散射(30 cm-1)
光致發光(PL)、電致發光、光電流、上轉換發光
納米空間分辨率光譜:耦合AFM和SEM可以實現NanoRamanTM (TERS)、納米PL和陰極發光

XploRA PLUS 高性能全自動拉曼光譜



拉曼成像從未如此之快!

XploRA PLUS是我們有史以來*好的多樣性、多用戶拉曼光譜儀,它在一個可靠的、高性能的系統中融合了獨特而強大的功能,是研究和分析實驗室的理想選擇。

它是完全共聚焦的,不影響圖像質量、空間或深度分辨率。SWIFT快速拉曼圖像是目前*快的全共焦拉曼圖像,通常比傳統拉曼成像快10倍。

XploRA PLUS的簡單和強大是無可比擬的,它有更多的選擇,如多種激光波長、EMCCD檢測、拉曼偏振,甚至拉曼-AFM耦合。

通過簡單的AFM 升級,從微米尺度轉向納米光學世界
SWIFTTM10倍的拉曼成像速度

提高了檢測和靈敏度

可以提供完整的圖像細節

全光學顯微鏡,方便找樣品

*大的細節、分辨率和范圍,以增強光譜學

HORIBA的一鍵式簡易拉曼分析

NIST可追溯和**的自動校準選項,以獲得有效的結果

**的光學穩定性--堅固、可靠、長期的操作

自動操作提供簡單、強大的可靠性

標準的1年基本單元保修
XploRA Nano納米拉曼光譜儀



這是一套基于業界**的掃描探針顯微鏡SmartSPMXploRA plus的耦合系統。

 

XploRA Nano系統,緊湊、全自動、易于使用,這是一套已經得到證實了的經濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統,它幫助大家實現TERS成像。
多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行

簡單易用

全自動操作,在幾分鐘內即可開始測量,而不是幾小時!

真正的共聚焦

高空間分辨率,自動樣品臺,全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區域和針尖增強光譜測量(TERSTEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力,多光柵自動切換,寬光譜范圍的拉曼和光致發光分析。

高空間分辨率

針尖增強的納米級光譜分辨率(優于10nm

豐富的光學光譜(拉曼和光致發光)

多技術/多環境

結合TERS/TEPL化學成像的多模式SPM技術包括AFM、導電和電學模式(cAFMKPFM)、STM、液池和電化學環境。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行完全控制,SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。

堅固性/穩定性

高共振頻率AFM掃描器,遠離噪音干擾!高性能表現,無需主動隔振系統。



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